전자회로실험 - BJT의 속성 및 bias 결과 보고서
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작성일 21-03-14 21:30
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그러나 위의 식이 성립되지 않는건 물론 이거니와 들어오는 전류인 값이 제일 커야 하는데 오히려 의 값이 의 값보다 커져버렸다. 그 이유를 생각해 보았을 때 원인(原因)으로는 멀티미터의 정확한 값을 못 맞추었다는 점과 가변저항 값의 오차 혹은 다른 저항의 오차가 생겼을 경우와 값의 오차가 생겼다고 밖에 생각을 할 수 밖에 없었다.
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전자회로실험,BJT의 특성,bias 결과 보고서
처음 test(실험) 을 실행 했을 때 test(실험) 번호 3의 경우 예상 값과의 차이가 있긴 했으나 비슷한 오차가 그리 크지 않은 값이 도출되었다.
BJT의 속성 및 bias
2. 실험 목적
설명
1. 실험 제목 BJT의 특성 및 bias 2. 실험 목적 2-1.트랜지스터 바이어스, 동작점, 증폭 작용, 스위치 작용 사이의 상관 관계를 인식함으로써 트랜지스터 회로 설계 능력을 기른다.
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전자회로실험 - BJT의 속성 및 bias 결과 보고서
2-1.transistor 바이어스, 동작점, 증폭 작용, 스위치 작용 사이의 상관 관계를 인식함으로써 transistor 회로 설계 능력을 기른다. 특히 동작점의 위치와 증폭기로서의 속성 사이의 관계에 대한 이해를 통하여 증폭기 설계의 기초를 마련한다. test(실험) 과정에서의 문제나 오류가 있지는 않다고 생각이 들었다. 그 후 지금 토의를 쓸 때 생각을 해본 결과 회로 구성에 있어서 접지 방법과 측정(measurement) 방법이 틀렸다고 생각이 들고 다른 한편으로는 계측기의 내부 저항에도 影響(영향)이 있다는 것과 프로브 접지 부위가 고정적이지 못 했으며 멀티미터 또한 정확한 값에 맞추지 못했기 때문인 것 같다. 가변저항 의 값에 따라 전류 또한 조절되기 때문에 오차가 생기고 오류 또한 생길수도 있다고 생각이 들었다. 또한 test(실험) 절차 6과 12를 보게 되면 둘은 분명 다른 pnp형의 transistor(트랜지스터) 와 npn형의 transistor(트랜지스터) 이지만 둘 다 의 값이 의 값보다 적게 나오게 되었다. 그 이후 test(실험) 에서 값을 측정(measurement)하는데 있어서는 그다지 큰 문제가 없었지만, 도출되어 나온 값들에 라는 수식에는 모두 성립되는 경우가 없었다. test(실험) 8과 14의 경우는 예상 값과의 오차가 매우 적었고 또한 값이 상당히 잘 나왔는데 그 이유는 단순히 베이스-에미터 다이오드에 역방향 전압을 인가했을 경우 베이스 전류가 흐르지 않게 되어 값이 딱 맞아 떨어진 경우라고 볼 수 있따
1. 실험 title
다. 특히 동작점의 위치와 증폭기로서의 특성 사이의 관계에 대한 이해를 통하여 증폭기 설계의 기초를 마련한다. 오차가 생기게 되어 Bread Bord의 소자들을 다른 칸으로 옮기지는 않았지만 다시 새로 연결을 해보고, 가변저항 를 다시 만져 보기도 했지만 여전히 의 값이 의 값보다 크게 나왔다.
